小專題：IC設(shè)計的幕后故事

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文章來源：泛普軟件   從很多數(shù)字我們都可以感受到IC(集成電路)技術(shù)的飛速發(fā)展，很多人都把這歸功于制造工藝、設(shè)備和材料等因素，殊不知電子設(shè)計自動化技術(shù)(EDA)在其中發(fā)揮了不可忽視的作用。特別是，近幾年電路集成度的提高、芯片內(nèi)部晶體管數(shù)目的激增、SoC設(shè)計模式的出現(xiàn)、越來越多功能的設(shè)計需求、工作主頻的不斷竄升、特征尺寸的更加微細(xì)，使得IC設(shè)計的復(fù)雜性越來越高而且制造的挑戰(zhàn)性越來越大，同時也面臨更多的新問題。對此，EDA工具的重要作用也更加得以體現(xiàn)。   注意到國內(nèi)IC設(shè)計、IC加工、IC封裝業(yè)的研發(fā)人員以及其他專業(yè)的科技工作者對EDA技術(shù)的興趣日益增長，為了促進(jìn)大家對EDA技術(shù)領(lǐng)域的深入了解，我們邀請到了目前國內(nèi)活躍在EDA領(lǐng)域一線的頗具實力的中青年專家共同來完成本次專題。他們在EDA領(lǐng)域老一輩專家學(xué)者的直接關(guān)懷與支持下，共同準(zhǔn)備了這個EDA技術(shù)專題。他們各自所在的單位都是國內(nèi)在EDA領(lǐng)域活躍、進(jìn)步和具有影響力的單位。他們自己也在各自的研究方向上取得了國內(nèi)領(lǐng)先、相當(dāng)部分還達(dá)到了國際先進(jìn)、甚至國際領(lǐng)先的成果。他們針對當(dāng)前EDA領(lǐng)域的熱點問題、結(jié)合自己的研究興趣與專長進(jìn)行了選題，并進(jìn)行了重點的介紹。   這次選題的規(guī)模也是空前巨大，基本覆蓋了EDA領(lǐng)域從前端設(shè)計到后端設(shè)計的整個流程，對當(dāng)前EDA領(lǐng)域的熱點及難點問題以及關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了比較詳細(xì)的闡述。由于版面限制，我們將本次EDA技術(shù)專題分為幾期刊載，本期內(nèi)容重點是系統(tǒng)設(shè)計、高層次綜合、形式驗證等前端設(shè)計的技術(shù)討論，以后我們還將重點敘述物理綜合與驗證的相關(guān)內(nèi)容，包括布局、布線、版圖驗證和寄生參數(shù)提取等熱點問題，以及與制造、工藝相關(guān)的EDA技術(shù)，包括目前學(xué)術(shù)界和工業(yè)界十分關(guān)心的DFM、信號完整性分析等問題的詳細(xì)分析和論述。   繁榮IC背后的EDA     面向SoC的系統(tǒng)級設(shè)計方法與技術(shù)研究進(jìn)展       高層次綜合與布圖規(guī)劃相結(jié)合     現(xiàn)代集成電路模擬技術(shù)     數(shù)字系統(tǒng)的形式化驗證